电容式触摸开关芯片
佩戴检测触摸芯片选型表
|
P/N |
Package |
输出方式 |
response time |
reset time |
standby power |
Size mm |
最多按键数 |
类别 |
特点 |
|
VM8601D-YS |
SOT23-6 |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
1 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233C-YS |
DFN6L |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
1 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233C-Y2 |
DFN6L |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
2 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233D-Y2C2 |
DFN8 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
2 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233D-Y2R2 |
DFN8 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
2 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233C-Y3 |
DFN8 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
3 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233D-Y3 |
DFN8 |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
3 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233C-Y4 |
DFN8 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
2*2 |
4 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8233D-R4 |
DFN8 |
CMOS、OD直接输出 |
45MS |
∞ |
5UA |
2*2 |
4 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234D-Y4 |
QFN20 |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
4 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234D-Y6 |
QFN20 |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
6 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234D-Y8 |
QFN20 |
CMOS直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
8 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234C-Y4 |
QFN20 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
4 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234C-Y6 |
QFN20 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
6 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8608 |
QFN20 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
8 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8234C-Y8 |
QFN20 |
串口输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
8 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y2 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
2 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y4 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
4 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y6 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
6 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y6 |
DFN12 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
3*3 |
6 |
抗干扰算法 |
可做佩戴检测及滑动调节，IIC与主控通讯，APP调节灵敏度参数 |
|
VM8235C-Y8 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
8 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y10 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
10 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y12 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
12 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y14 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
14 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235C-Y16 |
QFN24 |
IIC输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
16 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8235D-Y10 |
QFN24 |
直接输出 |
45MS |
16S/∞ |
5UA |
4*4 |
10 |
抗干扰算法 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8310N |
SOT23-6 |
OD直接输出 |
160MS |
∞ |
2UA |
3*3 |
1 |
ASIC专用芯片 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8310S |
SOT23-6 |
CMOS直接输出 |
160MS |
∞ |
2UA |
3*3 |
1 |
ASIC专用芯片 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8324SN |
SOT23-6 |
OD直接输出 |
160MS |
∞ |
2UA |
3*3 |
1 |
ASIC专用芯片 |
佩戴检测摸芯片 |
|
VM8212RC |
DFN4 |
CMOS直接输出 |
160MS |
∞ |
2UA |
1*1 |
1 |
ASIC专用芯片 |
DFN4L 1*1单按键触摸芯片 |
|
VM8212RN |
DFN4 |
OD直接输出 |
160MS |
∞ |
2UA |
1*1 |
1 |
ASIC专用芯片 |
DFN4L 1*1单按键触摸芯片 |
佩戴检测触摸芯片是一种用于检测设备是否被佩戴以及实现触摸交互功能的集成电路芯片，常见于智能穿戴设备等领域。以下是相关介绍：
工作原理
通常基于电容感应原理。芯片通过检测金属极板与周围物体（如人体）之间的电容变化来判断是否有佩戴行为。当设备靠近人体时，人体与极板之间形成电容，电容值的变化被芯片检测到，经过内部电路处理和算法分析，转化为佩戴或未佩戴的信号输出。同时，对于触摸操作，也是通过检测触摸时电容的瞬间变化来识别触摸动作，如单击、双击、滑动等。
特点
高精度检测：能够准确区分佩戴和未佩戴状态，以及精确识别各种触摸动作，减少误判和漏判。如锐盟半导体的 RM1001B 芯片电容检测分辨率可达 30aF，典型入耳检测响应时间为 50ms。
低功耗：适合应用于电池供电的穿戴设备，以延长设备的续航时间。像上海矽朋微电子的 SSP8011A - A 芯片，工作电压为 2.2V - 5.5V，超低功耗为 1.3μA@Vdd = 3V。
抗干扰性强：具备抗电磁干扰、抗环境噪声等能力，在不同的使用环境中都能稳定工作。RM1001 系列芯片采用电容 - 数字噪声整形直接转换架构专利技术，集成多通道全差分检测，适配自适应滤波与漂移补偿核心算法，可有效抵抗干扰。
可配置性：拥有丰富的可配置寄存器，用户可以根据不同的应用场景和需求，对芯片的检测灵敏度、阈值、扫描周期等参数进行调整和校准。
应用场景
TWS 耳机：检测耳机是否入耳佩戴，实现自动播放 / 暂停音乐、切换模式等功能，同时支持触摸控制来实现播放、暂停、切换曲目、调节音量等操作。
智能手表和手环：检测手表或手环是否佩戴在手腕上，以便准确记录运动数据、心率等健康信息，避免误测。触摸功能则用于操作菜单、切换界面、启动应用等。
智能头盔：检测头盔是否正确佩戴在头部，可与安全系统联动，如在未佩戴时发出警报，同时触摸操作可用于控制头盔上的灯光、通讯设备等。